HILIC色谱柱铲常见损坏分析

　　在载气通道上有泄漏的地方（如气路、接头、进样器）往往是进入氧气的源头。当HILIC色谱柱加热时，就会很快损坏固定相，这就会过早地引起色谱柱的过度流失、活性化合物有拖尾、降低柱效。在不太严重的情况下HILIC色谱柱还会有一定的分离功能，但是性能已经下降了。在严重的情况下这支色谱柱就*不能使用了。

　　超过色谱柱的温度上限会造成色谱柱固定相和管表面的加速损坏，这样会造成HILIC色谱柱的过量流失，活性组分形成拖尾，柱效降低。因此，在色谱柱明显的损坏以前于温度极限以上运行需较长时间，当有氧存在时会大大加速热损坏，在有泄漏或过加热加温色谱柱会加速损坏并*性损坏HILIC色谱柱。

　　设定GC的zui高柱温在色谱柱高温极限或稍高于这一极限是避免热损坏的方法，这样可避免色谱柱意外的过热，如果色谱柱受到热损失，它仍然还会有一定的功能。把色谱柱从检测器上卸下来，在极限的恒温温度下加热8-16小时，把色谱柱接到检测器的一端截去10-15cm，按正常情况安装HILIC色谱柱并进行老化。但是这一色谱柱不能恢复到原来的性能，可是常常仍具有一定的功能，在热损坏之后HILIC色谱柱的寿命会缩短。